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X射線顯微鏡具備廣闊的拓展能力

發布時間:2021-04-16      點擊次數:436
   X射線顯微鏡是對樣品進行高分辨率成像的有用工具,但其中涉及的輻射會損害敏感樣品,如病毒、細菌和一些細胞。降低輻射劑量是解決這一問題的一種方法,但不幸的是,這也降低了圖像的分辨率。
  X射線顯微鏡憑借其突破性技術和高分辨率探測器,將3DX射線顯微鏡(XRM)的性能提升至新的高度,為各種尺寸的樣品提供亞微米級成像解決方案。保持先進的大樣品高分辨率技術優勢的同時,該系統可實現高達500nm空間分辨率。該產品通過使用更高分辨率的光學元件,實現分辨率的改善和突破。與此同時,該產品還加入了更多的智能的元素,并且具有更廣闊的拓展能力。
  X射線顯微鏡應用領域:
  1. 材料科學,如三維無損分析
  2. 生命科學,如微觀結構成像
  3. 地球科學,如地質、油氣三維成像
  4. 半導體行業,如電子封裝失效分析
  5. 支持原位實驗條件下的三維成像
  X射線顯微鏡是一種非侵入性和非破壞性成像技術,在不破壞樣品的情況下,利用X射線對樣品進行掃描,能夠獲得掃描樣品的一個三維圖像,獲取內部詳盡的三維結構信息。在地學領域,在對表征和定量分析巖石孔隙結構、測量滲流、研 究儲碳過程、分析尾礦、大化開采效率、巖性礦物相分析方面具有其它設備無法替代的優勢;對珍貴的實體化石以及其他巖石樣品的三維無損成像,在不破壞標本的前提下,全面同時獲取化石或樣品的外觀形態和內部結構信息,并且可以實現化石形態和內部結構的三維可視化,幾乎可以用于所有門類古生物學的研究。此外,在生命科學、油氣地質學、沉積學、考古學、材料科學和電子學領域也廣泛應用。
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