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缺陷無損紅外檢測

簡要描述:硅基半導體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無損紅外檢測

  • 產品型號:Wafer HgCdTe HgCdTe
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2016-11-30
  • 訪  問  量:741

詳細介紹

硅基半導體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無損紅外檢測

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