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  • LEICA DCM8徠卡顯微鏡

    LEICA DCM8徠卡顯微鏡具有Z佳的精確度和可重復性 您所查看的產品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌?使用高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可從以下三種干涉測量模式中選擇:垂直掃描干涉測量(VSI);相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量(ePSI)。

    訪問次數:812
    產品價格:面議
    廠商性質:代理商
    更新日期:2016-11-28
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